Измерение сигналов DDR с помощью переходника от Agilent

В статье описываются применение переходника пробников для тестирования микросхем BGA (в дальнейшем — «переходник») и связанные с этим проблемы, рассказывается о физической реализации переходника и его влиянии на тестируемую систему, а также об анализе сигналов с помощью ПО исключения элементов схемы. Касаясь методологии проектирования, авторы выделяют важные аспекты, которые надо учитывать для ...
?>